压敏电阻不是感知压力，是一个电压的感受器，有点像保险丝，超过自身的所承受的电压就会击穿，断路保护压敏电阻器是吸收或释放线路中存在的雷电感应过电压和操作过电压的限压型保护元件，同时作为线路系统和设备的元件，还须承受低压供电线路和设备均要承受的暂时过电压因此压敏电阻器在线路中应用时须承受雷电过电压、操作过电压和暂时工频过电压的冲击，压敏电压通常以在压敏电阻上通过1mA直流电流时的电压来表示其是否导通的标志电压这个电压就称为压敏电压也常用符号表示压敏电压的误差范围一般是正负百分之十在试验和实际使用中，通常把压敏电阻电压从正常值下降百分之十作为压敏电阻失效的判据另外它的冲击电流大脉冲宽度远远小于大功率半导体系统实际脉冲电流宽度，所以才会时常发生短路压敏电阻常用作过压保护设备，但是它的通流容量虽大，但容量却不大一般可用下式计算： U1mA=KUac式中：K为与电源质量有关的系数，一般取K=（2～3），电源质量较好的城市可取小些，电源质量较差的农村（特别是山区）可取大些。Uac为交流电源电压有效值。对于220V～240V交流电源防雷器，应选用压敏电压为470V～620V的压敏电阻较合适。选用压敏电压高一点的压敏电阻，可以降低故障率，延长使用寿命，但残压略有增大标称放电电流的计算： 压敏电阻的标称放电电流应大于要求承受的浪涌电流或每年可能出现的 大浪涌电流。标称放电电流应按压敏电阻浪涌寿命次数定额曲线中冲击10次以上的数值进行计算，约为 大冲击通流量的30%（即0.3IP）左右压敏电阻的并联： 当一个压敏电阻满足不了标称放电电流的要求时，应采用多个压敏电阻并联使用。有时为了降低限制电压，即使标称放电电流满足要求也采用多个压敏电阻并联。要特别注意的是，压敏电阻并联使用时，一定要严格挑选参数一致的（例如：ΔU1mA≤3V，Δα≤3）进行配对，以保证电流的均匀分配压敏电阻的计算温度保险管应与压敏电阻有良好的热耦合，当压敏电阻失效（高阻抗短路）时，它所产生的热量把温度保险管熔断，使失效的压敏电阻与电路分离，确保设备的安全。当较高的工频暂时过电压作用在压敏电阻上时，可能使压敏电阻瞬间击穿短路（低阻抗短路），而温度保险管还来不及熔断，还可能起火。为避免这种现象发生，可在每个压敏电阻上再串联一个耐冲击工频保险丝（单用工频保险丝则在老化失效时可能不熔断）----如何正确的使用压敏电阻压敏电阻是工程师们手上必备的电子元器件之一，在LED开关电源或大功率的电源设备中经常可以看见压敏电阻的身影。压敏电阻器在运行过程中为电路系统所提供的瞬时过压保护，是非常重要的。实际上，除了过压保护压敏电阻的技术参数外，在实际选择时还要考虑以下几个问题。

接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻。这类测量是在诸如连接器、继电器和开关等元件上进行的。接触电阻一般非常小其范围在微欧姆到几个欧姆之间。根据器件的类型和应用的情况，测量的方法可能会有所不同。ASTM的方法B539“测量电气连接的接触电阻”和MIL-STD-1344的方法3002“低信号电平接触电阻”是通常用于测量接触电阻的两种方法。通常，一些基本的原则都采用开尔文四线法进行接触电阻的测量。 测量方法： 图4-42说明用来测试一个接点的接触电阻的基本配置。使用具有四端测量能力的欧姆计，以避免在测量结果中计入引线电阻。将电流源的端子接到该接点对的两端。取样（Sense）端子则要连到距离该接点两端电压降 近的地方。其目的是避免在测量结果中计入测试引线和体积电阻（bulkresistance）产生的电压降。体积电阻就是假定该接点为一块具有相同几何尺寸的金属实体，而使其实际接触区域的电阻为零时，整个接点所具有的电阻，设计成只有两条引线的器件有的时候很难进行四线连接。器件的形式决定如何对其进行连接。一般，应当尽可能按照其正常使用的状态来进行测试。在样品上放置电压探头时不应当使其对样品的机械连接产生影响。例如，焊接探头可能会使接点发生不希望的变化。然而，在某些情况下，焊接可能是不可避免的。被测接点上的每个连接点都可能产生热电动势。然而，这种热电动势可以用电流反向或偏置补偿的方法来补偿。 干电路测试 通常，测试接点电阻的目的是确定接触点氧化或其它表面薄膜积累是否增加了被测器件的电阻。即使在极短的时间内器件两端的电压过高，也会破坏这种氧化层或薄膜，从而破坏测试的有效性。击穿薄膜所需要的电压电平通常在30mV到100mV的范围内。 在测试时流过接点的电流过大也能使接触区域发生细微的物理变化。电流产生的热量能够使接触点及其周围区域变软或熔解。结果，接点面积增大并导致其电阻降低。 为了避免这类问题，通常采用干电路的方法来进行接点电阻测试。干电路就是将其电压和电流限制到不能引起接触结点的物理和电学状态发生变化电平的电路。这就意味着其开路电压为20mV或更低，短路电流为100mA或更低。 由于所使用的测试电流很低，所以就需要非常灵敏的电压表来测量这种通常在微伏范围的电压降。由于其它的测试方法可能会引起接点发生物理或电学的变化，所以对器件的干电路测量应当在进行其它的电学测试之前进行。