电容在空气中湿度过高时，水膜凝聚在电容器外壳表面，可使电容器的表面绝缘电阻下降。水分还可渗透到电容器介质内部，使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降。离子迁移可严重破坏正电极表面银层，引线焊点与电极表面银层之间，间隔着具有半导体性质的氧化银，使无介质电容器的等效串联电阻增大，金属部分损耗增加，电容器的损耗角正切值显著上升。表面绝缘电阻则因无机介质电容器两电极间介质表面上存在氧化银半导体而降低。 电容空气中湿度过高时，水膜凝聚在电容器外壳表面，可使电容器的表面绝缘电阻下降。此外，对于半密封结构电容器来说，水分还可渗透到电容器介质内部，使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降。 电容 因此，高温、高湿环境对电容器参数恶化的影响极为显著。经烘干去湿后电容器的电性能可获改善，但是水分子电解的后果是无法根除的。例如，电容器的工作于高温条件下，水分子在电场作用下电解为氢离子（H+）和氢氧根离子（OH-），引线根部产生电化学腐蚀。即使烘干去湿，也不可能使引线复原。 离子迁移可严重破坏正电极表面银层，引线焊点与电极表面银层之间，间隔着具有半导体性质的氧化银，使无介质电容器的等效串联电阻增大，金属部分损耗增加，电容器的损耗角正切值显著上升。 由于正电极有效面积减小，电容器的电容量会因此而下降。表面绝缘电阻则因无机介质电容器两电极间介质表面上存在氧化银半导体而降低。银离子迁移严重时，两电极间搭起树枝状的银桥，使电容器的绝缘电阻大幅度下降。 综上所述，银离子迁移不仅会使非密封无机介质电容器电性能恶化，有可能导致内部短路、高的漏电流、容值损失、ESR值的上升和电路开路。而且可能引起介质击穿场强下降， 导致电容器击穿。

Y电容是安规电容的一种，安规电容是指用于这样的场合：即电容器失效后，不会导致电击也不会不危及人身安全。也就是因为这样安规电容与其他普通的电容有着不一样的地方，普通的电容在电源断开之后很长一段时间还会保留一定残留电压，一旦手触碰到就会发生电击，而安规电容却不会。Y电容大多数为蓝色，但是也有黄色的，由于是安全电容，因此Y电容上面一般都会标有相关的认证，例如CQC、VDE、UL等认证。如下图Y电容通常接于零线与地或者火线与地之间，如下图是I级EMI滤波电路，Y1和Y2是Y电容，通常两个串联一起，根据耐高压分为Y1、Y2、Y4三个等级，其中：Y1电容耐高压值＞8kV；5kV＜Y2电容耐高压值＜小于8kV；2.5kV＜Y4电容耐高压值＜小于5kV二、漏电流对于开关电源，Y电容通常接于一次侧（初级）与二次侧（次级）之间，如下图，Y电容器可为一次侧耦合到二次侧的干扰电流提供回流路径那么Y电容容量为什么不能太大呢我们知道Y电容对于EMC有很大的帮助，由于是共模电容，因此需要接地，那么就会有一个漏电流，还是以上面的EMI滤波电路为例，Y电容漏电流I=2πfCU其中：f是市电频率，即50Hz，C为Y电容总容量（4700pF+4700pF=9400pF），U对地端电压，这里取110V即可。则可以计算得出漏电流有0.32A之多，并且会发现漏电流与容量成正比关系，也就是说容量越大漏电流也就越大，对于220V/50Hz交流电网供电的用电器，很多国家都规定漏电流不得大于1mA，对于手持式以及移动设备等其他用电产品对漏电流也有不同的要求，因此如果电源产品需要接Y电容，容量一般都不是很大，有时候甚至去掉Y电容，因此我们经常看到的Y电容容量基本上都是不大于0.1uF。