电容在空气中湿度过高时，水膜凝聚在电容器外壳表面，可使电容器的表面绝缘电阻下降。水分还可渗透到电容器介质内部，使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降。离子迁移可严重破坏正电极表面银层，引线焊点与电极表面银层之间，间隔着具有半导体性质的氧化银，使无介质电容器的等效串联电阻增大，金属部分损耗增加，电容器的损耗角正切值显著上升。表面绝缘电阻则因无机介质电容器两电极间介质表面上存在氧化银半导体而降低。 电容空气中湿度过高时，水膜凝聚在电容器外壳表面，可使电容器的表面绝缘电阻下降。此外，对于半密封结构电容器来说，水分还可渗透到电容器介质内部，使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降。 电容 因此，高温、高湿环境对电容器参数恶化的影响极为显著。经烘干去湿后电容器的电性能可获改善，但是水分子电解的后果是无法根除的。例如，电容器的工作于高温条件下，水分子在电场作用下电解为氢离子（H+）和氢氧根离子（OH-），引线根部产生电化学腐蚀。即使烘干去湿，也不可能使引线复原。 离子迁移可严重破坏正电极表面银层，引线焊点与电极表面银层之间，间隔着具有半导体性质的氧化银，使无介质电容器的等效串联电阻增大，金属部分损耗增加，电容器的损耗角正切值显著上升。 由于正电极有效面积减小，电容器的电容量会因此而下降。表面绝缘电阻则因无机介质电容器两电极间介质表面上存在氧化银半导体而降低。银离子迁移严重时，两电极间搭起树枝状的银桥，使电容器的绝缘电阻大幅度下降。 综上所述，银离子迁移不仅会使非密封无机介质电容器电性能恶化，有可能导致内部短路、高的漏电流、容值损失、ESR值的上升和电路开路。而且可能引起介质击穿场强下降， 导致电容器击穿。

1、无功补偿电容器内部元件击穿，主要由于生产工艺不良引起，过电压引起。 解决方案：选择质量好的补偿电容器，添加过电压保护装置；2、无功补偿电容器对外壳绝缘损坏：补偿电容器引出线由薄铜片制成，如果生产制造工艺不良，边缘不平有毛刺或弯曲，其 容易产生电晕，电晕使得油分解、箱壳膨胀、油面下降而造成击穿。 解决方案：可选择生产工艺好的干式补偿电容器，挑选时，可查看补偿电容器外观、检测报告；3、在封盖时，转角处如果烧焊时间过长，将内部绝缘烧伤并产生油污和气体，使得油面大大下降而造成补偿电容器损坏。 解决方案：购买时可查看补偿电容器焊接处并选择干式补偿电容器；4、密封不良和漏油：由于装配套管密封不良，潮气进入内部，使得绝缘降低，或因漏油使得油面下降，导 对壳放电或元件击穿。 解决方案：可购买质量好的补偿电容器，选择靠谱的品牌；5、鼓肚和内部游离：由于内部产生电晕，击穿放电和内部游离，补偿电容器在过电压的作用下，使元件起始游离电压降低到工作场强以下，由此引起物理、化学、电器效应，使绝缘加速老化、分解、产生气体，形成恶性循环，箱壳压力增大，造成箱壁外鼓以致爆炸。 解决方案：可选择带有过压力保护、防爆保护的干式补偿电容器。 6、带电荷合闸引起补偿电容器爆炸：当电力电容器切除后，未经充分放电再次合闸，则产生的涌流 大值可达到充电时的2倍，补偿电容器残存电压与系统电压叠加，可导致合闸瞬间补偿电容器爆炸。 解决方案：可以加入浪涌保护器装置。