【产品用途】各种大功率开关电源、UPS电源、转换电源
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工程师必知的哪些元器件失效原理
温度变化对电容的影响 温度变化将引起电容的到介质损耗变化，从而影响其使用寿命。温度每升高10℃时，电容器的寿命就降低50％，同时还引起阻容时间常数变化，甚至发生因介质损耗过大而热击穿的情况。 此外，温度升高也将使电感线圈、变压器、扼流圈等的绝缘性能下降。 湿度导致失效 湿度过高，当含有酸碱性的灰尘落到电路板上时，将腐蚀元器件的焊点与接线处，造成焊点脱落，接头断裂。 湿度过高也是引起漏电耦合的主要原因。 过高电压导致器件失效 施加在元器件上的电压稳定性是保证元器件正常工作的重要条件。过高的电压会增加元器件的热损耗，甚至造成电击穿。对于电容器而言，其失效率正比于电容电压的5次幂。对于集成电路而言，超过其 大允许电压值的电压将造成器件的直接损坏。 电压击穿是指电子器件都有能承受的 耐压值，超过该允许值，器件存在失效风险。主动元件和被动元件失效的表现形式稍有差别，但也都有电压允许上限。晶体管元件都有耐压值，超过耐压值会对元件有损伤，比如超过二极管、电容等，电压超过元件的耐压值会导致它们击穿，如果能量很大会导致热击穿，元件会报废。
热电阻的工作原理及特点
在中低温区 为常用的一种温度检测器就数热电阻了，那么在此就一起来学习下热电阻的工作原理及特点吧。热电阻它的主要特点是测量精度高，性能稳定。其中铂热是阻的测量精确度是 的，它不仅广泛应用于工业测温，而且被制成标准的基准仪。与热电偶的测温原理不同的是，热电阻是基于电阻的热效应进行温度测量的，即电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。因此，只要测量出感温热电阻的阻值变化，就可以测量出温度。目前主要有金属热电阻和半导体热敏电阻两类。 金属热电阻的电阻值和温度一般可以用以下的近似关系式表示，即Rt=Rt0［1+α（t-t0）］式中，Rt为温度t时的阻值;Rt0为温度t0（通常t0=0℃）时对应电阻值;α为温度系数。半导体热敏电阻的阻值和温度关系为Rt=AeB/t式中Rt为温度为t时的阻值;A、B取决于半导体材料的结构的常数。相比较而言，热敏电阻的温度系数更大，常温下的电阻值更高（通常在数千欧以上），但互换性较差，非线性严重，测温范围只有-50~300℃左右，大量用于家电和汽车用温度检测和控制。金属热电阻一般适用于-200~500℃范围内的温度测量，其热电阻特点是测量准确、稳定性好、性能可靠，在程控制中的应用极其广泛。 热电阻材料热电阻测温是基于金属导体的电阻值随温度的增加而增加这一特性来进行温度测量的。热电阻大都由纯金属材料制成，目前应用 多的是铂和铜，此外，现在已开始采用镍、锰和铑等材料制造热电阻。（本篇文章由中国整理发布）在中低温区 为常用的一种温度检测器就数热电阻了，那么在此就一起来学习下热电阻的工作原理及特点吧。热电阻它的主要特点是测量精度高，性能稳定。其中铂热是阻的测量精确度是 的，它不仅广泛应用于工业测温，而且被制成标准的基准仪。与热电偶的测温原理不同的是，热电阻是基于电阻的热效应进行温度测量的，即电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。因此，只要测量出感温热电阻的阻值变化，就可以测量出温度。 目前主要有金属热电阻和半导体热敏电阻两类。金属热电阻的电阻值和温度一般可以用以下的近似关系式表示，即Rt=Rt0［1+α（t-t0）］式中，Rt为温度t时的阻值;Rt0为温度t0（通常t0=0℃）时对应电阻值;α为温度系数。半导体热敏电阻的阻值和温度关系为Rt=AeB/t式中Rt为温度为t时的阻值;A、B取决于半导体材料的结构的常数。 相比较而言，热敏电阻的温度系数更大，常温下的电阻值更高（通常在数千欧以上），但互换性较差，非线性严重，测温范围只有-50~300℃左右，大量用于家电和汽车用温度检测和控制。金属热电阻一般适用于-200~500℃范围内的温度测量，其热电阻特点是测量准确、稳定性好、性能可靠，在程控制中的应用极其广泛。热电阻材料热电阻测温是基于金属导体的电阻值随温度的增加而增加这一特性来进行温度测量的。热电阻大都由纯金属材料制成，目前应用 多的是铂和铜，此外，现在已开始采用镍、锰和铑等材料制造热电阻。
