| 产品名称： | 工厂制造商-电容贴片供应商-深圳贴片电容 |
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| 更新日期： | 2021年07月25日，有效期：180天 |
| 关键字： | 贴片滤波电容封装 车规级贴片电容供应商 云母贴片电容封装 贴片电容0603封装 三端贴片电容供应商 贴片滤波电容代理商 |
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【产品用途】各种大功率开关电源、UPS电源、转换电源
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贴片电容的静电容量测量方法
1.测量仪器 一般使用LCR测试仪测量陶瓷电容器的静电容量。 2.测量原理 LCR测试仪的代表性测量方法如图所示，为自平衡电桥法。其原理如下。 DUT为DeviceUnderTest的缩写，指测量对象。高增益放大器会自动调整增益，使通过电阻R的电流与通过DUT的电流相等，DUT的低电位侧(图中L一侧)一直处于虚拟接地(电位0)状态。 3.注意事项 在对陶瓷电容器的静电容量进行测量时，必须在规格书等相关资料上记载的正确测量条件下进行。需要注意的是由于电容标称值等的不同其条件也有所区别。这里所说的条件，主要是指测量前的热处理、测量电压、测量频率数。 另外，由于实际上包括测量电缆在内的测量端子的残余阻抗和导纳成分会影响测量结果，因此需要对测量端子进行补正。由于测量端子的补正是使用对端子头直接接触DUT的部分为止的值进行测量并将其阻抗等成分从测量结果中减除的方法，因此需要预先测量出补正值。补正通常会使用短路补正和开路补正。
贴片电容常见的质量问题
1. 部分，不易观察，涉及到板材的材料电容、加工工艺以及在使用片状电容时的机械和热应力等因素。 2.其次是片状电容电性能问题，片状电容使用一段时间后出现绝缘电阻下降，漏电。 以上的这个两个问题经常同时出现，而且是相互联系的，电容器的绝缘电阻是衡量片状电容器在工作过程中的漏电流的一个重要参数，漏电流大，片状电容不能储存电能，片状电容器两端的电压降低，片电容器的失效往往是由于漏电流过大而引起的，引起了对片状电容器可靠性的争论。 可靠性问题：将贴片电容的失效分为三个阶段。 阶段：是片状电容器生产使用失败，这与制造加工工艺有关。 第二阶段：是片状电容长时间工作的失效现象，在这一阶段，片状电容的失效往往是元件老化，磨损，疲劳导致性能变差，整机功能障碍出现在消费者手中的电子机器上，追溯原因，发现片状电容漏电流大而失效。 第三阶段：是片状电容的质量问题，特别是与可靠性有关的质量问题，这是一个复杂的过程，其主要表现形式是瓷体断裂、微裂纹或绝缘电阻的漏电流大幅度增加，出现片状电容可靠性失效的质量问题，应从大角度、全方位、分阶段进行分析和研究。
