安规电容有个 典型的失效机理是低压失效。从安规的角度来讲，都喜欢把余量留得大一点，这样即使设计上有点缺陷，器件也不会故障。这么做就错了。原因请看下面分析低压失效的典型症状： 一．实际应用电压远低于电容的额定耐压值，一般在额定值的10%以下；二．湿热实验或潮湿预处理后电容会失效；三．从湿热实验和潮湿预处理后，进行高热实验或电路板烘烤，电容会恢复正常；四．或者将失效电容从电路板上拆下，两端加较高点压，额定值的60%-75%左右，电容的性能会恢复正常。 如果您用到的安规电容遇到了类似现象，基本上可以初步确诊为低压失效的可能了。那原因何在 安规电容中的两个极片中间有介质，然后被壳体将电容极片、介质进行封装，事实上，封装的壳体不会100%的致密，就给潮气渗入提供了可能。举例，耐压在50V的安规电容，潮气渗入了，在电容两端加5V电压的时候，附着在介质上的潮气就成了一个漏电流通道，但因为电压低，这个漏电流并不很大，通路阻抗上产生的热量也并不大，不足以将水汽加热蒸发掉，但破坏电容的储能特性是足够了。于是，电容失效了。 高温实验，高温下水汽蒸发，漏电流通道不复存在，电容恢复正常；如果加高压，导通阻抗仍维持不变，随着电压的升高，漏电流势必增大，增大的漏电流在导通阻抗上就会产生较大的热量I2R，这个热量也会导致潮气蒸发，结果也是电容漏电流逐渐变小，直至恢复储能功能。 因此安规电容选型的耐压指标 不能余量留得太大，这是选型时容易出现问题的一个关键点。

1. 部分，不易观察，涉及到板材的材料电容、加工工艺以及在使用片状电容时的机械和热应力等因素。 2.其次是片状电容电性能问题，片状电容使用一段时间后出现绝缘电阻下降，漏电。 以上的这个两个问题经常同时出现，而且是相互联系的，电容器的绝缘电阻是衡量片状电容器在工作过程中的漏电流的一个重要参数，漏电流大，片状电容不能储存电能，片状电容器两端的电压降低，片电容器的失效往往是由于漏电流过大而引起的，引起了对片状电容器可靠性的争论。 可靠性问题：将贴片电容的失效分为三个阶段。 阶段：是片状电容器生产使用失败，这与制造加工工艺有关。 第二阶段：是片状电容长时间工作的失效现象，在这一阶段，片状电容的失效往往是元件老化，磨损，疲劳导致性能变差，整机功能障碍出现在消费者手中的电子机器上，追溯原因，发现片状电容漏电流大而失效。 第三阶段：是片状电容的质量问题，特别是与可靠性有关的质量问题，这是一个复杂的过程，其主要表现形式是瓷体断裂、微裂纹或绝缘电阻的漏电流大幅度增加，出现片状电容可靠性失效的质量问题，应从大角度、全方位、分阶段进行分析和研究。