【产品用途】各种大功率开关电源、UPS电源、转换电源
结构可靠、便于安装。
抑制浪涌电流能力强、吸收能量大。
工作的稳态电流大。
寿命长、可靠性高。
所有来料出料均实行全检制度，并成立专项品检队伍，按照ISO品质管理体系标准严格执行，保障物料的质量稳定，出厂合格率≥99.9%，且根据客户需要通过ROSH、REACH等标准认证，从而全方位的保障客户权益，并承诺产品均为品牌原厂 假一赔十，提供售后质保障。
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工程师必知的哪些元器件失效原理
温度变化对电容的影响 温度变化将引起电容的到介质损耗变化，从而影响其使用寿命。温度每升高10℃时，电容器的寿命就降低50％，同时还引起阻容时间常数变化，甚至发生因介质损耗过大而热击穿的情况。 此外，温度升高也将使电感线圈、变压器、扼流圈等的绝缘性能下降。 湿度导致失效 湿度过高，当含有酸碱性的灰尘落到电路板上时，将腐蚀元器件的焊点与接线处，造成焊点脱落，接头断裂。 湿度过高也是引起漏电耦合的主要原因。 过高电压导致器件失效 施加在元器件上的电压稳定性是保证元器件正常工作的重要条件。过高的电压会增加元器件的热损耗，甚至造成电击穿。对于电容器而言，其失效率正比于电容电压的5次幂。对于集成电路而言，超过其 大允许电压值的电压将造成器件的直接损坏。 电压击穿是指电子器件都有能承受的 耐压值，超过该允许值，器件存在失效风险。主动元件和被动元件失效的表现形式稍有差别，但也都有电压允许上限。晶体管元件都有耐压值，超过耐压值会对元件有损伤，比如超过二极管、电容等，电压超过元件的耐压值会导致它们击穿，如果能量很大会导致热击穿，元件会报废。
使用微欧姆计或数字多用表：
图4-42示出使用Keithley580型微欧姆计、2010型数字多用表或2750型数字多用表数据采集系统进行四线接触电阻测量的基本配置情况。这些仪器能够采用偏置补偿模式自动补偿取样电路中的热电势偏置，并且还具有内置的干电路测量能力。对于大多数的应用来说，微欧姆计或数字多用表足以用来进行接触电阻的测量工作。如果短路电流或者被测电阻值比微欧姆计或数字多用表的技术指标小得很多，则必须使用纳伏表加精密电流源的组合来进行。 使用纳伏表和电流源： 图4-43示出使用Keithley2182A型纳伏表和2400系列数字源表仪器进行接触电阻测量的测试配置情况。 2400系列仪器强制电流流过接点，而纳伏表则测量接点两端产生的电压降。为了进行干电路测试，设置数字源表的钳位电压为20mV，这样就把电路的开路电压钳位到20mV。为了保证钳位电压只出现在接点两端，而不是出现在测试引线的两端，该数字源表采用四线模式。在使用较大的电流时，这一点特别重要。因为和接点两端的电压降相比，测试引线两端的电压降可能会比较大。 为了避免发生瞬变现象，一定要先将电流源关闭，然后再把接点接入测试夹具或将其断开。将一个100Ω的电阻器直接跨接在电流源的输出端，能够进一步降低瞬变现象。 可以使用电流反向法将热电势偏置降至 小。2182A的Delta模式与数字源表仪器配合可以自动地实现这种技术。在这种模式下，2182A自动地触发电流源改变极性，然后对每一种极性触发测量一个读数。接着，2182A显示“经过补偿”的电压值： 接触电阻怎么测_接触电阻影响因素 其中：I=测试电流的 值。
