贴片电容常见的质量问题

1. 部分，不易观察，涉及到板材的材料电容、加工工艺以及在使用片状电容时的机械和热应力等因素。 2.其次是片状电容电性能问题，片状电容使用一段时间后出现绝缘电阻下降，漏电。 以上的这个两个问题经常同时出现，而且是相互联系的，电容器的绝缘电阻是衡量片状电容器在工作过程中的漏电流的一个重要参数，漏电流大，片状电容不能储存电能，片状电容器两端的电压降低，片电容器的失效往往是由于漏电流过大而引起的，引起了对片状电容器可靠性的争论。 可靠性问题：将贴片电容的失效分为三个阶段。 阶段：是片状电容器生产使用失败，这与制造加工工艺有关。 第二阶段：是片状电容长时间工作的失效现象，在这一阶段，片状电容的失效往往是元件老化，磨损，疲劳导致性能变差，整机功能障碍出现在消费者手中的电子机器上，追溯原因，发现片状电容漏电流大而失效。 第三阶段：是片状电容的质量问题，特别是与可靠性有关的质量问题，这是一个复杂的过程，其主要表现形式是瓷体断裂、微裂纹或绝缘电阻的漏电流大幅度增加，出现片状电容可靠性失效的质量问题，应从大角度、全方位、分阶段进行分析和研究。

如何应对电路板寄生组件对电路性能的干扰

电路板布线所产生主要寄生组件分别是精密电阻、电容以及电感。从电路图转成实际电路板时，所有寄生组件都有机会干扰电路性能。当一系统混合数字与模拟组件时，仔细布线是电路板成功与否关键。尤其，靠近高阻抗模拟走线经常变化之数字走线将造成严重耦合噪声，只有让这两种走线保持距离方可避免这种现象。本文量化了 棘手电路板寄生组件、电路板电容，并列举可清楚看到电路板上性能例子来说明。 非必要电容带来困扰 两条相邻平行走线会形成布线电容。电容值可用(图一)中所示公式计算。 注:两条走线相邻布置，即可在一块电路板上形成电容。因为此种电容，在一条走在线快速电压变化可在另一条走在线引起电流信号。 当高阻抗模拟走线贴近数字走线时，这种电容可能会在敏感混合讯号电路中造成问题。例如(图二)中电路就可能会面临这类问题。 注:以三个8位数字电位计和三个运算放大器组成之输出电压达6万5536阶之16位数字模拟转换器。如果VDD在这个系统内是5V，这个数字模拟转换器分辨率或LSB大小就是76.3μV。 (图二)电路动作，使用三个８位数字电位计和三个CMOS运算放大器来组成一个16位数字模拟转换器。图二左侧，有两个数位电位计（U3aandU3b）接到VDD与地间，该中心抽头输出端连接至两个运算放大器（U4a与U4b）非反向输入端。使用微控制器U1之SPI接口来规划数字电位计U2与U3。在这个架构中，每个数字电位计被规划为一个8位之多阶数字模拟转换器。如果VDD等于5V，这些数字模拟转换器LSB大小等于19.61mV。 这两个数字电位计之中心抽头端被连接至两个当缓冲器运算放大器之非反向输入端。在这个电路结构中，运算放大器之输入端是高阻抗，将数字电位计与电路其它部份隔离。这两个运算放大器输出之变化振幅被规划在不会超出第二级运算放大器允许范围内。 要让这个电路形成16位数字模拟转换器（U2a），第三个数字电位计会在这两个运算放大器U4a与U4b之输出范围内变动。规划U3a和U3b用来设定数字电位计之输出电压。再者，如果VDD是5V，则有可能将U3a与U3b个别规划为每一步19.61mV变化量。以此电压跨在第三个8位数字电位计R3上，使本电路 有效位所对应电压值为76.3uV。 本电路可被用于两种基本操作模式； 种模式用于可规划调整之直流参考电压，在这个模式中，只是偶尔使用电路之数字部份而在正常操作中却没有；第二种模式用于任意波型产生器，在这个模式中，电路之数字部份是操作核心，且可能发生电容耦合情形。图二中电路 种完成布线如(图三)所示。 注:此为对图二中电路 种布线。在图二中可迅速看到，重要高阻抗模拟走线与数字走线极为接近。本结构在模拟走在线，因特定数位走线之数据输入码改变，产生无预期且随数字电位计规划需求而变化噪声。