接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻。这类测量是在诸如连接器、继电器和开关等元件上进行的。接触电阻一般非常小其范围在微欧姆到几个欧姆之间。根据器件的类型和应用的情况，测量的方法可能会有所不同。ASTM的方法B539“测量电气连接的接触电阻”和MIL-STD-1344的方法3002“低信号电平接触电阻”是通常用于测量接触电阻的两种方法。通常，一些基本的原则都采用开尔文四线法进行接触电阻的测量。 测量方法： 图4-42说明用来测试一个接点的接触电阻的基本配置。使用具有四端测量能力的欧姆计，以避免在测量结果中计入引线电阻。将电流源的端子接到该接点对的两端。取样（Sense）端子则要连到距离该接点两端电压降 近的地方。其目的是避免在测量结果中计入测试引线和体积电阻（bulkresistance）产生的电压降。体积电阻就是假定该接点为一块具有相同几何尺寸的金属实体，而使其实际接触区域的电阻为零时，整个接点所具有的电阻，设计成只有两条引线的器件有的时候很难进行四线连接。器件的形式决定如何对其进行连接。一般，应当尽可能按照其正常使用的状态来进行测试。在样品上放置电压探头时不应当使其对样品的机械连接产生影响。例如，焊接探头可能会使接点发生不希望的变化。然而，在某些情况下，焊接可能是不可避免的。被测接点上的每个连接点都可能产生热电动势。然而，这种热电动势可以用电流反向或偏置补偿的方法来补偿。 干电路测试 通常，测试接点电阻的目的是确定接触点氧化或其它表面薄膜积累是否增加了被测器件的电阻。即使在极短的时间内器件两端的电压过高，也会破坏这种氧化层或薄膜，从而破坏测试的有效性。击穿薄膜所需要的电压电平通常在30mV到100mV的范围内。 在测试时流过接点的电流过大也能使接触区域发生细微的物理变化。电流产生的热量能够使接触点及其周围区域变软或熔解。结果，接点面积增大并导致其电阻降低。 为了避免这类问题，通常采用干电路的方法来进行接点电阻测试。干电路就是将其电压和电流限制到不能引起接触结点的物理和电学状态发生变化电平的电路。这就意味着其开路电压为20mV或更低，短路电流为100mA或更低。 由于所使用的测试电流很低，所以就需要非常灵敏的电压表来测量这种通常在微伏范围的电压降。由于其它的测试方法可能会引起接点发生物理或电学的变化，所以对器件的干电路测量应当在进行其它的电学测试之前进行。

对导体间呈现的电阻称为接触电阻。一般要求接触电阻在10-20mohm以下。有的开关则要求在100-500uohm以下。有些电路对接触电阻的变化很敏感。应该指出，开关的接触电阻是开关在若干次的接触中的所允许的接触电阻的 大值。 接触电阻过大的原因 触头接触电阻变大往往会在触头上造成很大的电压降，使负荷设备的输入功率降低。如果一两个触头接触电阻变大，还会使负荷设备三相电压不平衡，造成缺相运行；触头接触电阻过大，对电器本身也会造成过热，使其可靠性降低。造成触头接触电阻过大的原因很多，除上面介绍的原因外，还有以下几项： 1、触头表面有灰尘、花毛、油脂及金属微粒。 2、检修时将焊剂、松香等杂物残留在电器内，在高温下逸出的有机蒸汽污染了触头。 3、触头表面生锈或被电弧烧蚀。 4、环境潮湿，触头表面上的水气在低温时可能凝结成冰霜。 5、周围介质中的腐蚀性气体和蒸汽对触头造成侵蚀，在触头表面被覆上有害的绝缘膜。 6、触头电磨损和机械磨损。